產(chǎn)品導航
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大功率晶體管老化測試系統(MFS2002)

該系統適用各種NPN、PNP晶體管(包括三極管、達林頓管)、MOSFET管進(jìn)行大功率老化篩選試驗;適應F-1、F-2(粗細腳兼容)、TO-3P、TO-220封裝。

功能
  • 本系統提供4個(gè)測試區,每個(gè)區提供16個(gè)老化工位,共64工位
  • 每個(gè)區提供一套水冷平臺
  • 設備采用觸摸屏控制
產(chǎn)品特性

老化試驗區

 4區

試驗能力

75W以下的試驗條件,整機試驗能力為64位

150W以下的試驗條件,整機試驗能力為32位

300W以下的試驗條件,整機試驗能力為16位

冷卻系統

制冷功率≥4KW,每區流量16-160L/h

試驗參數

可測試、控制每個(gè)試驗器件的試驗電流值,范圍:0~5A/10A

可測試、控制每個(gè)試驗器件的試驗電壓值,范圍:0~60V

各分區溫度可獨立檢測,溫度檢測范圍:10~90℃,溫度檢測精度:±(1%+2LSB)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

10KW(典型)

整機重量

800KG(典型)

整機尺寸

1300mm(W)×950mm(D)×2000mm(H)

適用標準

GJB128 GJB33 MIL-STD-750

適用器件

適用于F0、F1、F2(細)、F2-3(粗)、TO-3P等封裝的晶體管、三極管、MOS管