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高溫反偏老化測試系統(HTRB2020)

該系統可進(jìn)行室溫+10℃~200℃ 的高溫反偏老化測試,老化過(guò)程中實(shí)時(shí)監測被測器件的漏電流狀態(tài)、被測器件的電壓狀態(tài),并根據需要記錄老化試驗數據,導出試驗報表。

功能
  • nA級別的漏電流檢測精度
  • 整機30s的全工位數據刷新
  • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進(jìn)程
  • 可定制工位老化電壓獨立控制功能,實(shí)現單工位老化超限剔除
  • 充分的實(shí)驗員人體安全考慮設定
產(chǎn)品特性

試驗溫區

1個(gè)

試驗溫度

室溫+10~200℃

老化試驗區

16區(16/32/40/48區可選)

單區工位數

80(典型)

老化電壓范圍

0~±2000V

電壓檢測精度

±(1%+2LSB)

電流檢測范圍

10nA~50mA

電流檢測精度

±(1%+10nA)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整機重量

680KG(典型)

整機尺寸

1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

適用標準

GJB128 MIL-STD-750D AQG324

適用器件

適用于MOS管、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等