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高溫柵偏老化測試系統(HTGB2010)

該系統可進(jìn)行室溫+ 10°C-200C的高溫柵偏老化測試,老化過(guò)程中實(shí)時(shí)監測被測器件的漏電流狀態(tài)、被測器件的電壓狀態(tài),并根據需要,記錄老化試驗數據,導出試驗報表。

功能
  • nA級別的漏電流檢測精度
  • 整機30s的全工位數據刷新
  • 可定制工位老化電壓獨立控制功能,實(shí)現單工位老化超限剔除
  • 充分的實(shí)驗員人體安全考電設定
產(chǎn)品特性

試驗溫區

1個(gè)

試驗溫度

室溫+10~200℃

老化試驗區

16區(16/32/40/48區 可選)

單區工位數

80(典型)

老化電壓范圍

0~±100V

電壓檢測精度

±(1%+2LSB)

電流檢測范圍

1nA~1mA

電流檢測精度

±(1%+10nA)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整機重量

680KG(典型)

整機尺寸

1450mm(W) x1450mm (D) x2000mm (H)

適用標準

JESD22-A101 AQG324 GJB128MIL-STD-750D

適用器件

適用于MOS、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等