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【再創(chuàng )佳績(jì)】浙江杭可儀器有限公司獲得“首臺套”證書(shū)!

2024/01/12

為深入貫徹省委、省政府關(guān)于制造業(yè)首臺(套)提升工程的有關(guān)要求,省經(jīng)信廳牽頭組織了2023年度首臺(套)產(chǎn)品認定工作,確定2023年度浙江省首臺(套)裝備292項。
浙江杭可儀器有限公司的LSIC7000 超大規模集成電路老化測試系統在本次認定工作中成功入選,該系統憑借其創(chuàng )新性和技術(shù)領(lǐng)先性,在集成電路老化測試領(lǐng)域取得了重大突破。這一認定不僅是對浙江杭可儀器有限公司的認可,更是對浙江省制造業(yè)創(chuàng )新能力和技術(shù)水平的肯定。




1. 主要功能
支持對FPGA、ARM、DSP、GPU、CPU、AI芯片等超大規模集成電路的壽命評估實(shí)驗、車(chē)規級芯片出廠(chǎng)老化測試、二篩服務(wù)。試驗溫度是室溫+10℃至+150℃ 范圍內的HTOL老化測試,允許實(shí)時(shí)監測與對比,并支持still向量文件導入設備運行。
2. 產(chǎn)品優(yōu)勢
TDBl(老化中測試) 技術(shù),支持實(shí)時(shí)監測元件輸出信號。
支持芯片運行BIST測試和SCAN測試。
兼容美國MCC與韓國DI公司的LOGIC老化設備向量,便于客戶(hù)遷移測試向量。
采用硬公制高速連接器,大幅提高測試信號完整性。
采用專(zhuān)用大電流連接器,可靠性、穩定性高。
3. 重要性及必要性
新能源汽車(chē)、國內軍工芯片的國產(chǎn)化替代導致半導體老化設備需求在快速增加。
中美貿易摩擦推動(dòng)國內半導體行業(yè)自主可控進(jìn)程。
LSIC7000超大規模集成電路老化系統可完全代替進(jìn)口設備,全面實(shí)現國產(chǎn)化,為超大規模集成電路器件壽命評估、老化測試提供可靠的工藝設備保障。

4.技術(shù)指標



感謝各級政府及相關(guān)部門(mén)對我們的大力支持與認可,衷心感激每一位團隊成員的辛勤付出。展望未來(lái),我們將堅定不移地以科技為先導,持續加大研發(fā)投入,推動(dòng)企業(yè)科技創(chuàng )新,努力為客戶(hù)提供更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)。


我們有信心,浙江杭可儀器有限公司將以卓越的業(yè)績(jì),成為行業(yè)的領(lǐng)軍企業(yè),為社會(huì )的發(fā)展做出更大的貢獻。