產(chǎn)品導航

光耦老化測試系統(GPIC2004)

該系統可對各種單光耦、雙光耦、四光耦器件進(jìn)行高溫恒流和恒功率老化,適應輸入端種類(lèi):各種雙向輸入型、單向輸入型器件;適應輸出端種類(lèi):三極管、達林頓管、可控硅、數字電路等。系統可適用于研究所、微電路器件生產(chǎn)廠(chǎng)等進(jìn)行各種器件的壽命篩選試驗和二級篩選試驗,適用于小批量多品種的試驗要求。

功能
  • 驅動(dòng)板功能模塊化,由各個(gè)模塊實(shí)現不同功能,后續更換維修方便
  • 可對不同通道數,種類(lèi)光耦進(jìn)行測試,通用性強
  • 有1024個(gè)恒流環(huán),可對每一路單獨校準,實(shí)現高精度測試
  • 可兼容各種不同型號老化板,實(shí)現對不同器件的老化
產(chǎn)品特性

試驗溫區

1個(gè)

試驗溫度

室溫+10~200℃

老化試驗區

16區

負載恒流控制范圍

1~80mA

程控精度

±(1.0%xRD+2LSB)

電壓檢測范圍

0.1V~120.0V、誤差±(1.0%xRD+2LSB)

老化通道數

16x64=1024

漏電流檢測范圍

1~100mA

漏電流檢測精度

±(1.0%xRD+2LSB)

老化模式

具有恒流恒功率兩種工作模式

恒功率檢測誤差

±(3.0%xRD+3mW)

電源

0~60V/40A(8路可選配)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整機重量

650KG(典型)

整機尺寸

1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

適用標準

GJB128 GJB33 MIL-STD-75

適用器件

適應于各種單光耦、雙光耦、四光耦器件;各種雙向輸入型、單向輸入型器件;三極管、達林頓管、可控硅、數字電路等