產(chǎn)品導航

間歇壽命老化測試系統(IOL2000)

該系統適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二極管、MOS管等功率器件進(jìn)行功率循環(huán)試驗和恒流功率試驗。系統每個(gè)區位風(fēng)道獨立,充分避免不同區位試驗進(jìn)程不同對試驗結果造成影響;在實(shí)驗過(guò)程中,監測器件的電壓、結溫特性,并且提供結溫特性曲線(xiàn)以備后期數據分析。

功能
  • 風(fēng)冷功率循環(huán)試驗
  • 每個(gè)區位獨立風(fēng)道
  • 大風(fēng)力散熱風(fēng)機
  • 最大60A電流試驗能力
  • 支持全開(kāi)通加熱模式
產(chǎn)品特性

試驗溫區

1個(gè)(K系數)

試驗溫度

室溫+10~200℃(K系數)

老化試驗區

16區(8/16/20區可選)

單區工位數

4(典型)

工位最大可串聯(lián)數量

8

老化電壓范圍

0~60V

電壓檢測精度

±(1%+2LSB)

電流檢測范圍

100mA~60A

電流檢測精度

±(1%+100mA)

結溫測試電流(Isense)

10~100mA

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

30KW(典型)

整機重量

1200KG(典型)

整機尺寸

2075mm(W)×1350mm(D)×1950mm(H)

適用標準

GJB128 MIL-STD-750D AEC-Q101

適用器件

適用于MOS管、二極管、三極管等功率器件