產(chǎn)品導航
當前位置: 首頁(yè) 產(chǎn)品中心 可靠性測試設備 集成電路實(shí)驗設備 集成電路(通用型) 超大規模集成電路老化測試系統 (LSIC9000)

超大規模集成電路老化測試系統(LSIC9000)

該系統可對芯片進(jìn)行室溫+10°C~150°C的HTOL測試,老化過(guò)程中實(shí)時(shí)檢測被測器件的輸出信號,過(guò)程中自動(dòng)對比向量。

功能
  • 每塊老化板提供10路可編程電源(0.5~10V/0~25A) 電源規格可單獨定制。
  • 每塊老化板可提供,256路I/O雙向通道
  • 每個(gè)試驗箱可支持最大38kw的熱耗散
  • 支持STIL、VCT、VEC格式向量文件直接導入使用。
  • 支持芯片BIST測試
  • 最大支持24個(gè)工位獨立溫控
  • 充分的實(shí)驗員人體安全考慮設定
產(chǎn)品特性

試驗溫區

1 個(gè)

試驗溫度

室溫+10~150℃

老化試驗區

32區

數字信號頻率

10MHz

向量深度

16Mbit

信號通道數

256路獨立可編程雙向IO

時(shí)鐘組數

8 組

信號周期

80~20480nS

時(shí)序邊沿

雙沿

PIN格式

8 種

信號輸入輸出電壓

0.5~5V

IO驅動(dòng)電流

DC≥50mA、瞬時(shí)電流≥80mA

DPS電源

0.5~6.0V/25A(可選配10V/5A)

DPS電源數

10個(gè)(可根據客戶(hù)需求配置)

DPS輸出保護

OVP (過(guò)壓)、UVP(欠壓)、OCP(過(guò)流)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

100KW(典型)

整機重量

2200KG(典型)

整機尺寸

2500mm(W)×1450mm(D)×2470mm(H)

適用標準

MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101 JESD22A-108

適用器件

適用于通用超大規模集成電路、SOC、FPGA、ARM、AI、低功率GPU等超大規模集成電路